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20170823 飞行时间二次离子质谱仪在工业领域的最新应用

  【讲座简介

  TOF-SIMS近年来已成为重要的表面分析方法。 本次讲座,我们将首先介绍与TOF-SIMS相关的一些基本原理机制和仪器信息。 然后,我们将重点介绍TOF-SIMS在工业领域的应用,特别是在各种工业材料的分析应用。这些应用实例也代表了我们作为一家分析研究公司在材料表征领域的分析能力。

2017年8月23日 上午9:30~11:30欢迎您参加本次讲座

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